近日，物探研究院提交的“小断层影响因子分析方法及装置”获国家发明专利授权。该发明提供了一种小断层影响因子分析方法及装置，解决了现有技术中小断层识别精度低的问题，达到了提高小断层识别精度的技术效果。

“小断层影响因子分析方法及装置”发明是物探院“十三五”重大专项课题的又一项科技成果。该发明专利转化后所研制的产品，将有效提升地球物理勘探地震解释的构造精度，工作效率高，为“数字地球”的深入认识打下良好的基础。

来源于：中煤地质报