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近日,物探研究院提交的“小断层影响因子分析方法及装置”获国家发明专利授权。该发明提供了一种小断层影响因子分析方法及装置,解决了现有技术中小断层识别精度低的问题,达到了提高小断层识别精度的技术效果。
“小断层影响因子分析方法及装置”发明是物探院“十三五”重大专项课题的又一项科技成果。该发明专利转化后所研制的产品,将有效提升地球物理勘探地震解释的构造精度,工作效率高,为“数字地球”的深入认识打下良好的基础。
来源于:中煤地质报
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